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HIOKI电桥LCR元器件测试仪
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产品简单介绍
3532-50 5MHZLCR测试仪
3532-50
3532-50 5MHZLCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI
3522-50LCR测试仪
3522-50LCR
3522-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI LCR测试仪 低价及更好的功用和性能 3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗,以使用方便、功能完备和最佳性价比而见长 基本参数 测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
3511-50LCR测试仪
3511-50
3511-50LCR测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI LCR测试仪 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR · 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度: ±0.08% · 内置比较器 测量参数 │Z│,θ,C,L,D,Q,R 测量方法 测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC) 检测:电压,AC 测量频率 120Hz或1kHz
3535LCR测试仪120MHz
3535
3535LCR测试仪120MHz 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI LCR测试仪 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 测量参数 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
3503电容测试仪
3503
3503电容测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量,低价、高效 · 定电压测量:1V(~17μF)、15mV(~170μF)、1kHz时 · 4ms(代表值)的高速测量 · 内置比较器 · 数台同时使用时,相位同步可能 · 附带同时触发输出功能
3501电容值测试仪
3501
3501电容值测试仪 产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 电容值测试仪 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 · 单按键操作 · 与一般测量功能不同,它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 · 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
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