日置HIOKI│电桥LCR元器件测试仪

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	3501电容值测试仪 3501	3501电容值测试仪产地: 日本厂商: 日本日置 HIOKI 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围·单按键操作·与一般测量功能不同，它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容·两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容
	3503电容测试仪 3503	3503电容测试仪产地: 日本厂商: 日本日置 HIOKI MLCC叠片陶瓷电容的高速测量，低价、高效 ·定电压测量：1V(～17μF)、15mV(～170μF)、1kHz时·4ms（代表值）的高速测量·内置比较器·数台同时使用时，相位同步可能·附带同时触发输出功能
	3535LCR测试仪120MHz 3535	3535LCR测试仪120MHz 高速LCR仪，采样率可高至120MHz 100kHz～120MHz的宽频带高速LCR测试（6ms/采样）拆卸式前置放大器可选择为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能测量参数 \|Z\|，\|Y\|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
	3511-50LCR测试仪 3511-50	3511-50LCR测试仪高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 高精度： ±0.08% 内置比较器 │Z│,θ，C，L，D，Q，R 测量源：恒压50mV，500mV，1Vrms(AC)检测：电压，AC 120Hz或1kHz
	3522-50LCR测试仪 3522-50LCR	3522-50LCR测试仪测量参数\|Z\|，\|Y\|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q
	3532-50 5MHZLCR测试仪 3532-50	3532-50 5MHZLCR测试仪：测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来.

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