晶体管图示仪

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	XJ27105型SOT-23封装器件测试装置 XJ27105	XJ27105型SOT-23封装器件测试装置--半导体管特性图示仪功能扩展装置与XJ4810/XJ4810A/XJ4832/XJ4830/XJ4822/XJ4822B/XJ4828/XJ4829主机配合使用，能对国内、外不同类型SOT-23封装的贴片半导体器件的静态参数进行测试，显示其特性曲线。
	XJ27104型VMOS管特性测试装置 XJ27104	XJ27104型VMOS管特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型VMOS管的静态参数进行测试，显示其特性曲线，并可测出其阈门电压。
	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置 XJ27103	XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试“78、79系列”三端集成稳压的静态输入特性曲线及负载特性曲线。
	XJ27102/XJ27102A型高压测试装置 XJ27102/XJ27102A	XJ27102/XJ27102A型高压测试装置主机配合使用，能测试3KV或5KV以内的半导体器件的反向电压。
	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置 XJ27101	XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试CMOS、TTL数字集成电路电压传输特性，不仅可判别被测器件功能是否正常，还可测出其开门电压、关门电压的重要参数。
	半导体管特性图示仪功能扩展装置 XJ27100	半导体管特性图示仪功能扩展装置本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型的场效应管进行单管或对管测试。
	XJ23702型30kV高压探极 XJ23702型	XJ23702型30kV高压探极/上海新建上升时间 ≤17.5ns 最大允许输入电压 30kV 输入阻抗 100MΩ//12pF
	XJ23700型3kV高压探极 XJ23700型	XJ23700型3kV高压探极/上海新建上升时间 ≤35ns 最大允许输入电压 3kV 输入阻抗 100MΩ//3pF
	JS-7B晶体管测试仪 JS-7B	爱仪 JS-7B晶体管测试仪JS-7B晶体管测试仪可测NPN/PNP晶体管lceo lcbo，H11，β，Nf等参数，测微电流灵敏度达10nA（满度值）
	XJ4822B型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4822B型	上海新建XJ4822B型CRT读出半导体管特性图示仪XJ4822B CRT图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。
	XJ4822型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4822型	XJ4822型CRT读出半导体管特性图示仪外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。·光标测量，字符读出，使各种静态参数包装β、Gm均可光标测量字符读出。
	XJ4810型半导体管特性图示仪 XJ4810型	XJ4810型半导体管特性图示仪上海新建采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。
	XJ4810A型半导体管特性图示仪 XJ4810A型	XJ4810A型半导体管特性图示仪上海新建采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试可测试三端稳压管特性。集电极扫描信号
	上海新建│QT2型半导体管特性图示仪 QT2型	上海新建│QT2型半导体管特性图示仪QT2型半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，最大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置，可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。其测试电流最高灵敏度可达0.5μ/div
	XJ4830型智能半导体管特性图示仪　 XJ4830	XJ4830型智能半导体管特性图示仪　测试开关智能控制，各种控制开关测试条件可预置、测试结果可存盘、可打印输出，并可适用PC机显示被测器件特性曲线。综合的存储能力被测器件的各种特性曲线可编辑存储在机内硬盘或软盘中，可随时调用。并可同时显示二簇特性曲线，便于用户对被测器件的比较和配对自动光标测量提供光标测量方式，用CRT读出，显示测试档级、测试值、β、gm及集电极峰值电压输出百分比。
	上海新建│XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪 XJ4820	上海新建│XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪XJ4820型CRT读出半导体管特性图示仪用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，以数字字符显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，从而减少了读数误差，提高了测量精度。本仪器是新一代智能化的测量仪器。

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