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产品[GUT-6000A 数位IC测试器 [产品打印页面]]资料

放大图片 如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: GUT-6000A 数位IC测试器 产品型号: GUT-6000A 数位IC测试器 产品展商: 深圳市朗普电子科技有限公司 简单介绍 GUT-6000A 数位IC测试器 ． Loop 测试 ． 自动搜寻 IC 编号功能 ． 开机自我侦测诊断功能 ． 过载保护功能 ． 可量测之 IC 种类超过 1800 种 ． 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ． 4000 及 4500 系列 CMOS ． 最大可测 Pin 数 : 28 Pin GUT-6000A 数位IC测试器 的详细介绍 特点 ． Loop 测试 ． 自动搜寻 IC 编号功能 ． 开机自我侦测诊断功能 ． 过载保护功能 ． 可量测之 IC 种类超过 1800 种 ． 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ． 4000 及 4500 系列 CMOS ． 最大可测 Pin 数 : 28 Pin  TOP 规格 测试范围   54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 55 及 75 系列 TTL 量测种类   约 1800 种 测试电压   5V DC 测试时间   高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC 使用电源   交流 110V/220V +10%, 50/60Hz 附件   电源线 x 1, 操作手册 x 1 尺寸及重量   335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤 产品留言

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