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产品名称:
GUT-6000A 数位IC测试器
产品型号:
GUT-6000A 数位IC测试器
产品展商:
深圳市朗普电子科技有限公司
简单介绍
GUT-6000A 数位IC测试器
. Loop 测试
. 自动搜寻 IC 编号功能
. 开机自我侦测诊断功能
. 过载保护功能
. 可量测之 IC 种类超过 1800 种
. 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
. 4000 及 4500 系列 CMOS
. 最大可测 Pin 数 : 28 Pin
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GUT-6000A 数位IC测试器 的详细介绍 |
. Loop 测试 . 自动搜寻 IC 编号功能 . 开机自我侦测诊断功能 . 过载保护功能 . 可量测之 IC 种类超过 1800 种 . 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS . 4000 及 4500 系列 CMOS . 最大可测 Pin 数 : 28 Pin
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规格 |
| 测试范围 |
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54/74 系列 TTL 及高速 CMOS |
| 4000 及 4500 系列 CMOS |
| 55 及 75 系列 TTL |
| 量测种类 |
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约 1800 种 |
| 测试电压 |
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5V DC |
| 测试时间 |
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高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC |
| 使用电源 |
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交流 110V/220V +10%, 50/60Hz |
| 附件 |
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电源线 x 1, 操作手册 x 1 |
| 尺寸及重量 |
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤 |
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