目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。市场上所见到的〈功能测试仪〉无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性能特性完全不一致的器件混为一类。〈功能测试仪〉实用价值很低，用这类仪器测试通过后的IC，有时上机却不能正常使用。给生产及调试人员增添了不少烦恼!
GT2100A数字集成电路多参数筛选测试仪,帮助您解决这类烦恼！
GT2100A 数字集成电路多参数筛选测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试的同时完成各项直流参数测试。GT2100A完全可以满足IC用户的参数测试要求。GT2100A是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
数字集成电路多参数筛选测试仪GT2100A 适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部队、IC经销商使用。
系统的主要特点:
1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4． 对IC输入电流、功耗电流测试。
5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。
6． 测试过程无须人工干预。
7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。
产品主要性能:
在功能测试的基础上
1. 测试器件的输入端注入电流。
2.测试器件的输入端交叉漏电流。
3.测试器件的输出端“三态”及“OC”门。
4. 测试器件的输出负载电流。
5. 测试器件的功耗电流。
6.查找未知芯片型号。
7. 可以单次测试，也可以循环测试.
8.可自动识别74系列中的CMOS器件（如：74C、74HC、74HCT等）。当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。
多值测试参数:
1.8种可选择的测试电源。
2.根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
3. 多种测试电压比较值。
4. 功耗测试。
以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。
测试模式:
1.模式O： 全组合参数测试。
2.模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
3.模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
4.模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。
5.模式F： 自编程测试。
测试范围及测试品种: 28Pin
1. 54 系列；4500 系列；
2. RAM 256K bit
3.74 系列；40000 系列；
4. EPROM 64K bit
5. 4000 系列；C00 系列。
6.光耦
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